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      玖錦盛會丨助力中國“芯”,玖錦科技亮相首屆中國光谷九峰山論壇暨化合物半導體產業大會

      2023年4月20-21日,“2023中國光谷九峰山論壇暨化合物半導體產業大會”在武漢光谷開幕。此次大會以“攀峰聚智、芯動未來”為主題,共設置了5大主題平行論壇,70多場主題報告,分別聚焦半導體核心裝備及零部件、光電子器件及集成技術、功率電子器件及應用等幾大重點方向,并設置企業參展區,深入探討產業鏈相關重點技術發展進展與前沿趨勢,傳遞最新技術信息。

      玖錦科技作為半導體測試產業鏈的核心儀表供應商,受邀參展向行業專家、企業客戶分享了如何利用玖錦科技最新發布的墨子、孔明系列儀器“射頻三大件”對半導體器件進行動態參數測試,幫助行業客戶解決測試難點,提高測試的效率和可靠性。

      隨著國內芯片需求擴大和第三代半導體技術的蓬勃發展,芯片的高頻、超寬帶、高線性等性能要求逐漸提高,尤其在芯片設計環節,準確的測試數據是突破上述技術的瓶頸問題之一。玖錦科技聯合探針臺友商推出了基于50 GHz矢量網絡分析儀VNA5000A與8寸綜合型探針臺T-200搭建的射頻微波芯片測試系統,為半導體行業提供了整體測試解決方案,適用于各種有源/無源射頻微波晶圓及芯片的測試。

      系統特點

      √ Bias Tee功能,從射頻端口直接提供直流配置;

      √ 在片校準技術,提取探針的特征參數,將測量端面從同軸轉移到探針,保證測試準確性;

      √ 可根據客戶需求快速進行二次開發;

      √ 一鍵式自動測試、數據存儲、分析、展示;

      √ 自動調用、保存、導出、導入校準結果;

      √ 一次連接/擺放,完成多個被測件的測試;

      √ 支持多路測試和芯片分類篩選。

      本次展會上,玖錦科技展區前人頭攢動,前來咨詢洽談的客戶接踵而至,他們現場初步了解射頻微波芯片測試系統的產品特點,為后續合作奠定良好基礎。

      芯片更新迭代的速度越來越快,功能越來越復雜,這就需要更高的測試可靠性和更少的測試時間來快速推出產品。玖錦科技作為行業新一線電子測試測量行業技術品牌,10年如一日的產業布局,以及持續加碼的研發投入,讓玖錦科技擁有著同類企業難以比擬的技術、市場以及質量優勢。

      未來,玖錦科技將依托多年的技術積累,持續精進電子測試測量儀器儀表及解決方案,在雙碳政策戰略背景下,助推中國半導體企業前進,為中國半導體行業持續穩定健康發展創造無限可能!

      成都市高新區和樂一街71號AI創新中心A區A1棟、A4-1棟

      ?版權所有:成都玖錦科技有限公司

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